場(chǎng)發(fā)射顯微鏡（簡(jiǎn)稱FESEM）是一種利用二次電子或背散射電子成像的高精度顯微鏡。以下是其工作原理：

　　

　　1、電子束產(chǎn)生：

　　

　　場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通常使用鎢絲作為電子源。在加熱到高溫時(shí)，鎢絲中的電子獲得足夠的能量克服逸出功從表面逸出，形成電子束。

　　

　　電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)過(guò)一系列的電磁透鏡聚焦，形成一個(gè)極細(xì)的高能電子束。

　　

　　2、樣品掃描：

　　

　　高能電子束以光柵狀掃描方式照射到樣品表面。由于高能電子束與樣品相互作用，會(huì)激發(fā)出各種物理信號(hào)，包括二次電子、背散射電子、X射線等。

　　

　　3、信號(hào)檢測(cè)：

　　

　　不同類型的探測(cè)器用于接收這些信號(hào)。例如，二次電子和背散射電子由相應(yīng)的檢測(cè)器接收，而特征X射線則由能譜分析儀處理。

　　

　　4、圖像放大：

　　

　　檢測(cè)到的信號(hào)經(jīng)過(guò)處理后，會(huì)在熒光屏上顯示出樣品表面的形貌圖像。這些圖像具有很高的分辨率，能夠清晰地顯示樣品表面的各種細(xì)節(jié)。

　　

　　5、成分分析：

　　

　　同時(shí)，利用電子束激發(fā)出的X射線，可以進(jìn)行元素成分的定性和定量分析。

　　

　　總的來(lái)說(shuō)，場(chǎng)發(fā)射顯微鏡通過(guò)上述過(guò)程，能夠提供關(guān)于樣品表面形貌和成分的詳細(xì)信息，是材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域中的重要研究工具。